10.3321/j.issn:1000-3290.2007.11.092
用于紫外探测器DBR结构的高质量AlGaN材料MOCVD生长及其特性研究
利用MOCVD方法在(0001)取向的蓝宝石衬底上实现了不同工艺条件下的高质量AlGaN材料的制备.得到了无裂纹的全组分AlxGa1-xN(0<x<1)薄膜.通过XRD,SEM,AFM等测量分析方法系统研究了生长工艺参数对材料的结构质量、组分、厚度和表面形貌的影响.分析了不同生长工艺对AlGaN材料特性的影响.研制的高质量AlGaN材料在紫外探测器的DBR结构应用中得到比较好的特性.
AlGaN、DBR、紫外探测器、MOCVD
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TB3(工程材料学)
国家重点基础研究发展计划973计划2006CB6049;国家自然科学基金60390072;60476030;60421003;60676057;教育部科学技术研究项目10416;教育部高等学校博士学科点专项科研基金20050284004;江苏省自然科学基金BK2005210;BK2006126
2008-01-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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6717-6721