用X射线激光M-Z干涉仪诊断点聚焦CH等离子体电子密度
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:1000-3290.2007.07.057

用X射线激光M-Z干涉仪诊断点聚焦CH等离子体电子密度

引用
在神光Ⅱ装置上,用软X射线激光Mach-zehnder干涉仪诊断了点聚焦CH等离子体电子密度Ne分布,介绍了实验结果.通过Abel变换进行了密度反演,给出了Ne的2D分布,测得的最高Ne为3.2×1021cm-3.通过同1.5维JB19程序以及二维XRL2D程序的模拟结果的比较,发现高密度区,限流因子取0.05的理论结果同实验相符,但是低密度区实验得到的Ne分布下降得更快,而且理论模拟的Ne二维分布同实验结果在细节上有比较大的差别.粗略的误差分析显示,干涉仪面型误差是实验误差的主要来源.

类镍银X射线激光、Mach-Zehnder干涉仪、密度反演、Abel变换

56

O53(等离子体物理学)

国家高技术研究发展计划863计划803-804-1-10-1

2007-08-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

3984-3989

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

物理学报

1000-3290

11-1958/O4

56

2007,56(7)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn