10.3321/j.issn:1000-3290.2007.02.088
Bi4Ge3O12晶体及其熔体结构的高温拉曼光谱研究
研究了BGO晶体在不同温度下(在300-1323 K的温度范围)的拉曼光谱及其熔体的高温拉曼光谱,分析了BGO晶体结构随温度变化的规律及BGO熔体的结构特征.随着温度的升高,BGO晶体的拉曼光谱谱峰都不同程度地向低波数方向移动,也存在不同程度的展宽,同时强度减弱.另外,在BGO熔体中存在[GeO4]和[BiO6]的结构基团;但两种结构之间的联键消失,即在熔体中二者是相互独立的生长基元.
高温拉曼光谱、熔体、BGO晶体
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TN3(半导体技术)
国家自然科学基金50472104
2007-04-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
1152-1155