氢稀释对多晶硅薄膜结构特性和光学特性的影响

摘要：

以SiCl4和H2为气源,用等离子体增强化学气相沉积技术,在250℃的低温下,研究氢稀释度对多晶硅薄膜结构特性的影响.实验结果表明,对于以SiCl4和H2组成的反应源气体,氢对薄膜生长特性的影响有异于SiH4/H2,在一定功率下,薄膜的晶化率随氢稀释度的减小而增加,在一定的氢稀释度下薄膜晶化度达到最大值85%;随着氢稀释度的继续减小,薄膜晶化度迅速下降,并逐渐向非晶态结构转变.随氢稀释度的减小,薄膜的光学带隙由1.5eV减小至约1.2eV,而后增大至1.8eV.沉积速率则随氢稀释度的减小先增加后减小,在无氢条件下,无薄膜形成.在最佳氢稀释度条件下,Cl基是促进晶化度提高,晶粒长大的一个主要因素.

关键词：多晶硅薄膜、微结构、氢稀释、SiCl4

所属期刊栏目：55

分类号：O4(物理学)

资助基金：国家重点基础研究发展计划973计划G2000028208

在线出版日期：2006-05-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：2523-2528