金刚石膜α粒子探测器的电学性能研究

摘要：

从外加偏压、预辐照处理等方面对三明治结构金刚石膜探测器在α粒子辐照下的电学性能进行了研究.电流-电压特性和脉冲高度分布测试和分析表明,金刚石膜探测器在能量为5.5MeV的241Am α粒子辐照一定时间后,其暗电流有所增加.探测器顶电极施加负偏压时,在α粒子辐照下得到的净电流和信噪比均较大.Raman光谱测试表明,造成上述现象的原因很可能是金刚石膜厚度方向的不均匀性分布.负偏压下探测器对α粒子的能量分辨率为25.0%,优于正偏压下的能量分辨率(38.4%).随着α粒子辐照时间的延长,探测器的净电流和电荷收集效率均有明显增加.

关键词：金刚石薄膜、辐射探测器、电学性能、脉冲高度分布

所属期刊栏目：55

分类号：O4(物理学)

资助基金：中国科学院资助项目60277024,60577040;上海市应用材料研究与发展基金0404;上海市纳米科技专项基金0452nm051;上海市重点学科建设项目T0101

在线出版日期：2006-05-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：2518-2522