PZT铁电薄膜纳米尺度铁电畴的场致位移特性

摘要：

利用扫描力显微术的压电响应模式,并基于逆压电效应原理,研究了梯度组成的PZT铁电薄膜纳米尺度铁电畴的场致位移特性.获得了源于纳米尺度铁电畴的压电效应和电致伸缩效应贡献的场致位移回滞线,以及源于线性压电效应和电畴反转效应综合贡献的纳米尺度压电位移-场强蝶形曲线,证实了Caspari-Merz理论在纳米尺度上的有效性.发现了梯度铁电薄膜存在纳米尺度印刻现象,认为该现象的内因源于薄膜中的内偏场.

关键词：PZT铁电薄膜、场致位移、纳米尺度、扫描力显微术

所属期刊栏目：54

分类号：O4(物理学)

资助基金：国家重点基础研究发展计划973计划2002CB613307

在线出版日期：2005-06-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1437-1441