10.3321/j.issn:1000-3290.2005.01.083
VHF-PECVD低温制备微晶硅薄膜的拉曼散射光谱和光发射谱研究
采用拉曼散射光谱和PR650光谱光度计对VHF-PECVD制备的微晶硅薄膜进行了结构表征和在线监测研究.结果表明:功率对材料的晶化率(xc)有一定的调节作用,硅烷浓度大,微调作用更明显;SiH*的强度只能在一定的范围内表征材料的沉积速率,功率大相应的速率反而下降;I[Hα*]/I[SiH*]强度比值反映了材料晶化程度,此结果和拉曼散射光谱测试结果显示出一致性;I[Hβ*]/I[Hα*]的强度比表明氢等离子体中的电子温度随功率的增大而逐渐降低.
甚高频等离子体增强化学气相沉积、微晶硅、拉曼散射谱、光发射谱
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O4(物理学)
国家重点基础研究发展计划973计划G2000028202,G2000028203;教育部科学技术研究项目02167;国家高技术研究发展计划863计划2002AA303261
2005-03-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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