Bi4-xLax Ti3O12-SrBi4-y Lay Ti4O15共生结构铁电材料拉曼光谱研究

摘要：

在常温下,对La掺杂共生结构铁电陶瓷Bi4-xLaxTi3O12-SrBi4-yLayTi4O15[BLT-SBLT(x+y),x+y=0.00,0.25,O.50,0.75,1.00,1.25,1.50]进行了拉曼光谱研究.结果表明,在掺杂量低于0.50时,La只取代类钙钛矿层中的Bi,当掺杂量高于0.50后,部分La开始进入(Bi2O2)2+层.La取代(Bi2O2)2+层中的部分Bi以后,(Bi2O2)2+层结构发生变化,原有的绝缘层和空间电荷库的作用减弱,导致材料剩余极化下降.La掺杂量增至1.50时,样品出现弛豫铁电性,这与30 cm-1以下模的软化相对应,说明La掺杂可引起材料的结构相变.

关键词：Bi44Ti3O12-SrBi4Ti4O15、La掺杂、声子模、拉曼频移

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分类号：O4(物理学)

资助基金：国家自然科学基金10274066

在线出版日期：2005-01-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：3929-3933