10.3321/j.issn:1000-3290.2004.09.075
丝网印刷FeS2(pyrite)薄膜的结构及光电性能
采用丝网印刷方法制备了FeS2(pyrite)薄膜,用x射线衍射确定了样品FeS2(pyrite)薄膜的晶体结构,并用Rietveld方法对样品的结构进行了精修,确定了样品的点阵常数、键长、键角、硫原子占位等结构参数.研究了膜厚对方块电阻、载流子浓度、霍尔迁移率、光能隙等光电参数的影响.
丝网印刷、薄膜、结构、Rietveld方法、光电性能
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O4(物理学)
国家自然科学基金50062002
2004-10-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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