饱和激发情况下的荧光关联谱测量
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:1000-3290.2004.08.018

饱和激发情况下的荧光关联谱测量

引用
研究了激发光增强时其对荧光关联谱(FCS)测量的影响.强激发光产生的饱和激发会改变激光诱导荧光的空间分布函数,从而影响FCS的测量结果.首先根据饱和吸收的物理模型,推导出强激发光情况下有效探测区域变化的定量公式,获得了FCS测量所得到的粒子数和扩散时间与饱和激发光强和激光光强的函数关系,并用于消除饱和吸收造成的系统误差.采用Monte-Carlo模拟方法和实验,对理论分析结果进行了验证.这将有助于完善FCS分析方法的理论模型,为高激发光强度下的FCS探测提供依据.

荧光关联谱、饱和激发、Monte-Carlo模拟

53

O56(分子物理学、原子物理学)

国家自然科学基金19928408,60138010,10274039

2004-09-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

2503-2508

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

物理学报

1000-3290

11-1958/O4

53

2004,53(8)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn