利用双载流子四陷阱模型解释Zn:Fe:LiNbO3晶体记录过程中的自擦除现象

摘要：

比较了掺Fe量相同的两种晶体Fe:LiNbO3和Zn:Fe:LiNbO3的光折变性能,并且给出了Zn:Fe:LiNbO3晶体光电导和衍射效率与入射总光强的关系.在Zn:Fe:LiNbO3晶体二波耦合实验中观察到衍射效率随记录时间的增长先增加,达到饱和后又逐渐减小的自擦除现象,并采用光折变双载流子四陷阱模型对该现象加以解释.在此基础上选择合适的曝光时序,利用角度复用技术在该晶体中进行体全息存储,并在同一点上存入30幅图像.

关键词：双载流子四陷阱模型、自擦除、电子-空穴竞争、角度复用

所属期刊栏目：53

分类号：O4(物理学)

资助基金：教育部优秀青年教师资助计划;黑龙江省留学回国人员科技活动基金LC01C11;哈尔滨工业大学校科研和教改项目HIT2001.33

在线出版日期：2004-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1788-1792