稳定In/Si表面的LEED研究

摘要：

利用LEED图形拟合的方法对大量不同取向In/Si表面的稳定性和小面化进行了研究,新发现了In覆盖度在1/2单层原子以下的三个稳定表面:Si(214)-In,Si(317)-In和Si(436)-In,以及In覆盖度在1单层原子左右的两个稳定表面Si(101)-In和Si(313)-In.此外还确定了In覆盖度在1单层原子左右的6个稳定In/Si表面的家族领地以及In覆盖度在1/2单层原子以下的4个稳定In/Si表面的家族领地.特别值得注意的是 Si(103)-In的家族领地相当大,甚至比最稳定的Si(111)7×7表面的还大些.

关键词：硅表面、铟、稳定表面、家族领地

所属期刊栏目：53

分类号：O4(物理学)

资助基金：国家自然科学基金19634010

在线出版日期：2004-03-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：521-526