10.3321/j.issn:1000-3290.2003.07.037
AlxGa1-xN/GaN异质结构中Al组分对二维电子气性质的影响
通过用数值计算方法自洽求解薛定谔方程和泊松方程,研究了Al组分对AlxGa1-xN/GaN异质结构二维电子气性质的影响,给出了AlxGa1-xN/GaN异质结构二维电子气分布和面密度,导带能带偏移以及子带中电子分布随AlxGa1-xN势垒层中Al组分的变化关系,并用AlxGa1-xN/GaN异质结构自发极化与压电极化机理和能带偏移对结果进行讨论分析.
AlxGa1-xN/GaN异质结构、二维电子气、自发极化、压电极化
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O4(物理学)
国家自然科学基金60136020;国家重点基础研究发展计划973计划G20000683
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
1756-1760