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10.3321/j.issn:1000-3290.2003.05.038

氮化铝单晶薄膜的ECR-PEMOCVD低温生长研究

引用
采用电子回旋共振等离子体增强金属有机物化学气相沉积(ECR-PEMOCVD)技术,在c轴取向的蓝宝石即α-Al2O3(0001)衬底上,以氮化镓(GaN)缓冲层和外延层作为初始层,分别以高纯氮气(N2)和三甲基铝(TMAl)为氮源和铝源低温生长氮化铝(AlN)薄膜.并利用反射高能电子衍射(RHEED)、原子力显微镜(AFM)和x射线衍射(XRD)等测量结果,研究了氢等离子体清洗、氮化和GaN初始层对六方AlN外延层质量的影响,从而获得解理性与α-Al2O3衬底一致的六方相AlN单晶薄膜,其XRD半高宽为12弧分.

AlN、氢等离子体清洗、氮化、GaN

52

O4(物理学)

国家自然科学基金69976008

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

1240-1244

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物理学报

1000-3290

11-1958/O4

52

2003,52(5)

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