电致发光色纯性增强的硅基有机微腔

摘要：

报道了硅基有机微腔的电致发光(EL).该微腔由上半透明金属膜、中心有源多层膜和多孔硅分布Bragg反射镜(PS-DBR)组成.半透明金属膜由Ag(20nm)构成,充当发光器件的负电极和微腔的上反射镜.有源多层膜由Al (1 nm) / LiF(0.5 nm) /Alq3/Alq3:DCJTB/NPB/CuPc/ITO/SiO2组成,其中的Al/LiF为电子注入层,ITO为正电极,SiO2为使正、负电极电隔离的介质层.该PS-DBR是采用设备简单、成本低廉且非常省时的电化学腐蚀法用单晶Si来制备的;该PS-DBR的反射谱的高反射区(阻止带)宽160 nm且其反射率可达99%.此硅基有机多层膜的反射谱图中出现了标志此结构为微腔的共振腔膜.被测样品EL谱的半高宽可由无微腔的70 nm窄化为有微腔时的12 nm,且为单峰发射,非共振模得到有效抑制; 与非微腔器件相比,该微腔在谐振波长处EL的强度增强了4倍; 对微腔器件的电流-亮度-电压特性以及影响器件寿命的因素也进行了讨论.制作有机微腔并提高其色纯性的方法可能是实现全硅基有机光子器件或光电子器件集成较有效的一种新途径.

关键词：电化学腐蚀、电致发光、窄峰发射、硅基有机微腔

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分类号：O4(物理学)

资助基金：国家自然科学基金69976010;上海市科委资助项目99JC14007;上海市博士后基金

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：1222-1229