共溅射和离子注入制备的SiO2(EU)薄膜中EU3+到EU2+的转变

摘要：

采用共溅射方法和Eu离子注入热生长的SiO2方法得到SiO2(Eu)薄膜，Eu离子的浓度为4％和0.5％。对样品X射线吸收近边结构(XANES)的研究和分析表明，在高温氮气中发生了Eu3+向Eu2+的转变。SiO2(Eu)薄膜高温氮气退火下蓝光的发射证明了这一结论。

关键词：SiO2(Eu)薄膜、XANES

所属期刊栏目：50

分类号：O4(物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：532-535