Bi2Sr2CaCu2-xSnxO8+δ系列超导体的XRD和XPS研究

摘要：

实验研究了Bi2Sr2CaCu2-xSnxO8+δ的X射线衍射(XRD)和光电子能谱(XPS).实验发现随着掺杂(Sn)量的增加,晶格参数a和c都有所变化,O1s和Cu2p芯能级谱也发生了变化.实验结果表明: 在低掺杂量时,Sn主要呈二价态;而在高掺杂浓度时呈四价态;掺Sn对超导电性的影响与其他元素的掺杂不同.这些实验结果支持化学环境在高温超导样品的电子结构中起着重要作用的结论.

关键词：Bi系超导体、掺杂、X射线衍射、光电子能谱

所属期刊栏目：49

分类号：O4(物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：2055-2058