10.3321/j.issn:1000-3290.2000.07.037
光照下高电子迁移率晶体管特性分析
以光照下耗尽型AlGaAs/GaAs高电子迁移率晶体管为例,考虑了光生载流子对半导体内电荷密度的影响和光压效应,采用器件的电荷控制模型,分析了光照对器件夹断电压、二维电子气浓度、I-V特性以及跨导的影响.与无光照的情况相比较,夹断电压变小,二维电子气浓度增大,从而提高了器件的电流增益,增大了跨导.
高电子迁移率晶体管、光压、电荷控制模型、二维电子气
49
O4(物理学)
中国科学院资助项目69671013
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
1394-1399