硅漂移探测器用于X射线标识谱与吸收实验

摘要：

利用硅漂移探测器测量不同元素的标识X射线，验证莫塞莱定律，计算屏蔽系数并解释其变化规律。利用不同厚度的镍吸收片做铜的标识X射线吸收，结果表明：单色化铜的标识X射线所需镍片的最佳厚度约为20μm 。

关键词：硅漂移探测器、X射线标识谱、屏蔽系数、能量分辨率

所属期刊栏目：36

分类号：O562.31(分子物理学、原子物理学)

在线出版日期：2016-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：8-10