用CMOS线阵图像传感器测量透明材料的折射率

摘要：

将衍射光栅干涉和CMOS线阵图像传感器技术相结合,提出了自动测量透明材料折射率的方法. 介绍了用CMOS线阵图像传感器来实现透明材料折射率测量的基本原理和数据采集方法. 采用曲线拟合计算条纹移动距离,提高了对干涉条纹移动量测量的准确性,折射率精度可提高到10-5数量级.

关键词：折射率、透明材料、CMOS线阵图像传感器、干涉条纹

所属期刊栏目：27

分类号：O435.1;TP247.2(光学)

资助基金：国家自然科学基金60331010

在线出版日期：2007-12-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：7-10