10.3969/j.issn.1005-4642.2006.12.002
用新型红外测温仪观察由钨丝电子发射引起的损耗
在金属电子逸出功测定实验中,未考虑由钨丝电子发射引起的损耗,存在约-1.86%的系统误差.用新型红外测温仪可以观察到因上述损耗而出现的钨丝温度的变化,为修正该系统误差提供直接的观察依据.
红外测温仪、逸出功、发射损耗
26
O462.3(真空电子学(电子物理学))
2007-01-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
8-11
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10.3969/j.issn.1005-4642.2006.12.002
红外测温仪、逸出功、发射损耗
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O462.3(真空电子学(电子物理学))
2007-01-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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