10.3969/j.issn.1005-4642.2000.10.008
显示KTiOAsO4晶体表面缺陷的实验方法研究
用化学腐蚀法和光学显微法对KTiOAsO4晶体缺陷进行了研究.发现不同的腐蚀剂对显示KTiOAsO4晶体的缺陷的效果不同,用第一种腐蚀剂磷酸腐蚀后观察到了KTiOAsO4晶体的铁电畴和菱形位错蚀坑,用第二种腐蚀剂氢氧化钾和硝酸钾混合水溶液观察到了生长条纹、扇形界和钟形位错蚀坑等缺陷.两种腐蚀剂的作用不能相互替代.对这一现象有待于进一步探讨.
KTiOAsO4、晶体、晶体缺陷、化学腐蚀方法、光学显微术
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TM2(电工材料)
山东省自然科学基金Y98A15018;国家重点实验室基金
2007-05-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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20-21,24