用光学干涉测微位移的教学演示仪
本文提出了一种以等厚干涉为基础的光纤Fabry-Perot干涉仪用于测量微位移教学演示仪.微位移通过在压电陶瓷上加不同的电压产生,同时设计了可视化软件操作界面.本干涉演示仪具有结构简单,携带、操作方便,可视化效果好.通过对得到实验结果与压电陶瓷的特性曲线相比可以发现,实验结果与特性曲线一致性好,数值差一个固定的偏移量,通过修正可实现对微位移的准确测量.
光学干涉、教学演示、压电陶瓷
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G633·7(中等教育)
2014-07-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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