利用扫描开尔文探针显微镜观察薄膜光电器件能级排布
薄膜光电器件的能级结构直接决定了载流子的产生、分离、传输、复合和收集等微观动力学过程,从而决定了器件性能.因此准确获取器件能级结构,是深入理解器件工作机制、推动器件技术革新的重要科学依据.此专论系统地介绍了本课题组利用扫描开尔文探针显微镜(SKPM)表征薄膜光电器件如有机太阳能电池、有机-无机钙钛矿光探测器等器件中界面能级结构的工作.垂直型薄膜器件中的活性材料层被顶电极与底电极封闭,通常难以直接在器件工况下测量其中的界面能级排布,我们发展了横截面SKPM技术来解决这一难题.研究表明,界面层是调控器件能级结构、决定器件极性、提高器件性能的重要手段.本文介绍的表征技术有望在各种薄膜光电器件,诸如光伏器件、光探测器、发光二极管,尤其是各种叠层构型器件的研究中展现出广阔的应用前景.
扫描开尔文探针显微镜、能级排布、横截面、界面层、有机太阳能电池、有机-无机钙钛矿光探测器
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O647(物理化学（理论化学）、化学物理学)
The project was supported by the National Natural Science Foundation of China21625304,51473184 and 11504408;Ministry of Science and Technology of China2016YFA0200703;the CAS Research Equipment Development Program YZ201654.国家自然科学基金21625304,51473184,11504408;中国科学技术部重点研发计划2016YFA0200703;中国科学院科研装备研制项目YZ201654
2017-12-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共10页
1934-1943
