qPlus型非接触原子力显微技术进展及前沿应用

摘要：

原子力显微镜(AFM)通过探测针尖与样品之间的相互作用力获得样品表面的结构信息.基于qPlus传感器的非接触原子力显微镜(NC-AFM)在传统AFM的基础上进一步提升了空间分辨率,为研究表面物理和化学过程提供了一种新的成像和谱学研究技术.本文首先介绍NC-AFM的基本构造、高分辨成像机制和力谱测量等工作原理,总结了近年来NC-AFM在表面在位化学反应、低维材料表征和表面电荷分布测量等方面的应用,探讨了NC-AFM技术的发展与完善,展望了NC-AFM面临的机遇和挑战.

关键词：非接触原子力显微技术、qPlus传感器、高分辨成像、力谱测量、开尔文探针力显微技术

所属期刊栏目：33

分类号：O647(物理化学（理论化学）、化学物理学)

资助基金：The project was supported by the Ministry of Science and Technology,China2012CB933001;National Natural Science Foundation of China 21425310.科技部2012CB933001;国家自然科学基金21425310

在线出版日期：2017-03-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共15页

页码：183-197