邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征

摘要：

从全脱乙酰化壳聚糖出发,在室温下合成了一系列不同取代度的邻苯二甲酰化壳聚糖(PhCS),由于反应条件温和,产物未发生进一步的酰亚胺化.X射线电子能谱(XPS)被用来测定PhCS的取代度.测定结果表明在N上和O上均发生取代,N上反应的取代度随酸酐用量的增加基本保持不变(0.26±0.03),而O上的取代度却不断变大(0.01～1.54),合成产物的总取代度为0.26～1.81.邻苯二甲酰化壳聚糖可溶解于普通的有机溶剂,如DMSO、二氯乙酸和甲酸,并形成溶致液晶.测定了PhCS在这些溶剂中的临界浓度(c*),结果表明c基本上不受取代度变化的影响.

关键词：壳聚糖、邻苯二甲酰化壳聚糖、溶致液晶、临界浓度(c*)、X射线电子能谱、取代度

所属期刊栏目：18

分类号：O641(物理化学（理论化学）、化学物理学)

资助基金：国家自然科学基金29974023;福建省自然科学基金E9910006

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：636-639