三种纳米颗粒粒径测量方法的比较

摘要：

本文以纳米SiO2粉末为研究对象,首次比较了三种常用的纳米颗粒粒径检测方法(透射电镜法、X射线衍射法、比表面积法)的检测结果.结果表明:与透射电镜法检测结果相比,X射线衍射法及比表面积法的测量结果偏小,分别小约8.1%和5.9%.

关键词：纳米颗粒、粒径、测量方法

所属期刊栏目：23

分类号：TB321(工程材料学)

资助基金：国家质检系统资助项目GDK25-2002

在线出版日期：2006-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：27-29