现代透射电子显微技术在多铁材料研究中的应用
文章简要介绍了材料科学研究中被广泛应用的透射电子显微(TEM)技术及其在多铁材料研究中的应用,并给出了几个典型案例:利用球差矫正原子分辨扫描透射电子显微术(STEM),并和电子能量损失谱(EELS)相结合,分析多铁异质结界面处的原子分布、离子价态和化学键的变化;结合球差矫正原子分辨透射电子显微图像(HRTEM)和STEM图像,分析多铁材料中的局域对称性破缺和电极化特性;利用原位变温及电/磁场加载技术,研究多铁材料中的结构相变和电畴/磁畴的动态演变特性。文章特别指出,现代透射电子显微学是全面分析理解多铁材料局域微结构,探讨多铁耦合机制及其物理根源的有效手段。
透射电子显微镜、多铁材料、原位TEM技术、相变、畴结构
TN2;O76
国家重点基础研究发展计划批准号2011CB921703,2014CB921002;国家自然科学基金批准号912211012,51272277,11374349
2014-02-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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