高分辨率电子能量损失谱在材料科学中的应用
简要介绍了FEI Titan80-300STEM扫描透射电镜中装配的Wien-filter型能量单色器(monochromator).文章特别指出,装配有能量单色器的FEI Titan80-300STEM扫描透射电镜,可以直接给出高能量分辨率(～0.1eV)的电子能量损失谱.利用高分辨电子能量损失谱,在高能损失区,对于K或L能级自然宽度(natural width of energy level)小于0.5eV的元素,可以获得更细致的的近限精细结构(energy-loss near-edge structure),更有利于解析其电子结构;在低能损失区,可以用于精确地确定半导体材料的带隙(bandgap)以及p型掺杂引起的带隙能的变化.
高分辨电子能量损失谱、近限精细结构、半导体带隙
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O4(物理学)
国家自然科学基金10974105;山东省优秀中青年科学家科研奖励基金BS2009CL005;山东省杰出青年基金JQ201002;青岛大学引进人才科研启动基金06300701
2011-03-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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