晶粒尺寸和应变的X射线粉末衍射法测定

摘要：

文章介绍了根据X射线粉末衍射线形测定试样品粒度和点阵畸变(应变)的主要方法,并以Co<,3>O<,4>纳米材料晶粒度和应变的测量为例加以说明.通过与扫描电镜观察的统计结果进行比较,分析了各种方法计算晶粒尺寸的可靠性和适用性.

关键词：X射线粉末衍射、晶粒尺寸、应变、纳米颗粒

所属期刊栏目：38

分类号：O4(物理学)

在线出版日期：2009-05-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：267-275