10.3321/j.issn:0379-4148.2007.04.005
分子电子器件的电性能测试方法
介绍了用于两端分子电子器件电性能测试的纳米孔技术、交叉线接触技术、导电原子力显微镜技术、扫描隧道显微镜技术、纳米间距电极技术以及机械可控断裂结技术.结合分子器件的电性能测试要求,对各类测试方法进行了分析评价,并简要指出了分子器件电性能测试研究的发展趋势.
分子电子学、分子电子器件、电性能测试
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TN10(真空电子技术)
2007-05-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
288-294