Z衬度扫描透射电子显微术的前沿进展

摘要：

文章介绍了Z衬度扫描透射电子显微术 (Z-scanning transmission electron microscopy,Z-STEM,Z为原子序数)的最新进展:Z-STEM可以直接"观察"到晶体中原子的真实位置,Z衬度图像的分辨率在经过球差校正后可达0.6;在利用Z衬度成像技术对材料的阴极荧光(cathodoluminescence,CL)性质的研究中,首次观察到了"死层"(dead layer)的存在.然后,文章以半导体与结晶氧化物界面结构、Al72Ni20Co8十角形准晶结构以及SrTiO3晶界结构为例,具体介绍了Z衬度成像在测定物质结构与化学组成方面独特的优势.

关键词：扫描透射电子显微术(STEM)、Z衬度成像、原子分辨、成分分析

所属期刊栏目：32

分类号：O4(物理学)

资助基金：国家自然科学基金60125103,90201036,90101025

在线出版日期：2003-10-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：613-617