近场光学显微镜观察到纳米尺度的折射率变化

摘要：

@@ 日本京都大学研究人员用近场光学显微镜(NSOM)在透明的聚合物膜上制作了纳米尺度的折射率图样,而薄膜的透明度及表面形态均未受到严重影响.实验中用的是3μm厚的聚合物薄膜,它是用自转镀层法在甲苯溶液中把在聚合物(异丁烯酸甲脂methyl methacrylate)中掺杂的3-苯基 -2,5-诺卜拿丁 -2羧酸(3 -phenyl-2,5 -norbomadiene-2-carboxylicacid)镀到盖板玻璃片上而成的.折射率图样是用照明模式NSOM设备制作的,该设备具有一个剪切力尖端取样距离调节功能,以及一个锥形探头.锥形探头由在甲苯溶液中经化学腐蚀的、镀铝的、可通过紫外光的光纤做成.将氦-镉激光器输出的波长为325nm的光耦合到光纤探头上,并在样品表面上进行扫描.激光在样品表面上的功率密度为4W/cm2,扫描速率为2μm/s,扫描时间为10min.经感光异化后,样品的折射率衰减了0.006,这是用由相同的激光器输出的442nm光测出的.估计这一技术对探测微组织间的电磁力极为有用,对存储数据也可能有用.

机标关键词：近场光学显微镜、显微镜观察、纳米尺度、激光器输出、折射率、聚合物薄膜、甲苯溶液、样品、光纤探头、表面形态、锥形、制作、照明模式、图样、设备、扫描速率、扫描时间、化学腐蚀、功率密度、调节功能

所属期刊栏目：30

分类号：O4(物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

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