存储测试仪磁场屏蔽效能仿真分析

摘要：

针对存储测试仪的磁场屏蔽效能优化问题,采用控制变量法和变量扫描法,利用Ansoft Maxwell有限元分析软件对测试仪屏蔽体的形状、材料和壳体壁厚这3个参数进行建模仿真,然后对不同参数的仿真结果进行对比,分析屏蔽体不同参数对屏蔽效能的影响.仿真结果表明,金属屏蔽体屏蔽效能受屏蔽体的形状、材料和壳体壁厚影响且影响不可忽略,通过选用磁导率大的圆柱体金属屏蔽体、增加屏蔽体壁厚,可增大屏蔽体屏蔽效能,同时通过理论计算验证了仿真结果.

关键词：存储测试仪、磁场屏蔽、屏蔽效能、建模仿真

分类号：TP391.9(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2018-11-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：144-145,147