10.15913/j.cnki.kjycx.2018.07.143
半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法分析研究
在对产品使用时间进行分析中,可靠性属于全新的一门学科,能够明确反映产品质量.在运用全新工艺和材料的条件下,半导体集成电路线宽逐渐降低,提升了集成度,对其可靠性的要求也更加严格.主要对半导体集成电路的可靠性测试进行了介绍,并分析了处理数据的2种方法,即热载流子注入测试和栅氧化层测试,从而有效提高了半导体集成电路的可靠性.
半导体、集成电路、可靠性测试、数据处理
TN47(微电子学、集成电路(IC))
2018-06-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
143-144