Xilinx XC4000系列FPGA自动测试平台搭建

摘要：

随着FPGA的发展,FPGA测试技术也得到了相应的发展.因为FPGA的结构和传统专用集成电路(ASIC)有着本质的区别在,FPGA中不能形成可测性设计电路,但它的可编程能力决定了其测试电路可以通过编程的方法来实现.本文讨论了Xilinx XC4000系列FPGA中CLB资源和互连资源的自动测试方法.而且提出了一种新的测试资源坐标定位方法,使得由软件仿真向器件真实测试取得了突破.并搭建了硬件测试平台.

关键词：XC4000 FPGA、测试平台、互连、自动测试

所属期刊栏目：26

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：中国科学院知识创新工程重要方向项目;基金申请人:杨志家;项目名称:"百万系统门级FPGA芯片研制及抗辐照加固关键技术研究"之子课题"基于SRAM的FPGA芯片测试技术研究":基金颁发部门:中国科学院400012449

在线出版日期：2014-07-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：10-12