基于二叉树满足MC/DC测试用例设计方法

摘要：

软件测试是保证软件质量的有效方法,但测试工作过程繁琐,工作量较多.探索高效、可靠的测试用例设计方法一直是大家追求的目标,随着航空航天产品逻辑复杂性的提高及软件规模的日益增大,这种要求也变得更加迫切.依据MC/DC设计的测试用例既提高了测试用例设计的效率又增加了测试覆盖率,比较适合测试逻辑关系相对复杂的软件.当前的很多软件测试工具提供了软件测试覆盖率的判定功能,可以评定设计出的测试用例是否满足MC/DC的要求,而软件测试人员需要的是逆向的过程,论文提出应用唯一原因法和屏蔽法原理设计测试用例,可达到根据逻辑关系自动生成满足MC/DC要求测试用例的目的,提高了测试用例设计的效率.

关键词：软件测试、MCdDC、二叉树、唯一原因法、屏蔽法

所属期刊栏目：26

分类号：TP311.5(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2014-07-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：171-173