10.3969/j.issn.2095-6835.2010.01.042
基于混沌搜索的数字电路多故障测试生成
针对数字电路中多故障测试生成较难的问题,本文提出了基于混沌搜索的数字电路多故障测试生成算法.该算法先把多故障转换成为单故障,再用神经网络的方法对单故障电路构造故障的约束网络,最后用混沌搜索方法求解故障约束网络能量函数的最小值点获得原电路中多故障的测试矢量.在一些国际标准电路上的实验结果表明了本算法的可行性.
混沌搜索、神经网络、约束网络、能量函数
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2014-07-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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