激光衍射光栅测试仪的设计与实现

摘要：

激光二极管衍射光栅光斑亮度比和透过率的测定是影响VCD、DVD等设备中激光读写头以及光学镜头质量的关键因素.本设计采用高性能单片机AVR Atmegal6L设计并实现了650nm激光衍射光栅测试仪,对衍射光栅0级和1级光斑亮度比和光栅透过率测试误差小于2%,方差小于2.2×10-3,满足了光栅测试的精度和稳定性要求.

关键词：衍射光栅测试仪、AVR单片机、光电探测器、激光二极管

所属期刊栏目：24

分类号：TP216+.1;TN707(自动化技术及设备)

资助基金：基于硅酸镧的新型固体氧化物燃料电池材料及导电机理的研究:颁发部门:湖北省科技厅2006ABA073

在线出版日期：2009-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：96-97,83