嵌入式存储器内建自测试方法

摘要：

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文在时存储器的故障模型分析的基础上,对具有代表性的测试算法进行了深入的研究,并且详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理.通过仿真表明该方法对多数常见故障具有较高的覆盖率.

关键词：嵌入式存储器、存储器内建自测试、March算法

所属期刊栏目：24

分类号：T(工业技术)

资助基金：国家自然科学基金50677014;高校博士点基金20060532002;湖南省自然科学基金06JJ2024;教育部新世纪优秀人才支持计划NCET-04-0767;国家863计划20060104A1127

在线出版日期：2009-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：263-265