10.3969/j.issn.1008-0570.2008.20.062
基于C8051F的动平衡测试系统
由于制造误差的影响,任何的旋转件都会产生动不平衡,进而产生振动对设备造成危害.大多数的动平衡测试系统由于工作环境中各种干扰同时存在,加之系统设计复杂,芯片抗干扰能力差,测量精度不高.所以本文介绍了一种采用高度集成的高性能处理器芯片C8051F020来简化系统硬件复杂度,提高系统抗干扰能力,采用精度更高的FFT算法,提高解算精度.经过实验验证,系统抗干扰能力和精度得到了提高.
动平衡、C8051F、测试
24
TP2064+.1(自动化技术及设备)
2008-10-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
159-160