ASM图在时序电路测试生成中的应用研究

摘要：

随着电路规模的不断扩大,将测试技术向高层次推进,提高测试的效率成为数字系统测试的必然要求.本文研究了基于ASM图的时序电路测试向量生成方法.该方法根据电路的功能描述构造ASM图,然后将其转换为状态图,利用有限状态机的有关知识构造测试向量,最后通过软件仿真和实测验证说明测试向量的正确性.该方法生成的测试向量能体现系统的功能,且具有较高的故障覆盖率.

关键词：ASM图、测试序列生成、状态图

所属期刊栏目：24

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金60603069

在线出版日期：2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：243-244,209