片上eDRAM性能评价函数簇研究
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10.3969/j.issn.1008-0570.2008.05.039

片上eDRAM性能评价函数簇研究

引用
本论文针对基于eDRAM的SOC中存储系统的性能评估问题、设计问题和可复用的eDRAM的集成技术问题进行研究,提出了一种定量的存储系统性能评估的建模方法.建立基于eDRAM存储系统评价函数簇模型,包括L(访问延迟)函数,P(功耗)函数,A(面积)函数和Y(良率)函数.利用此模型在已知系统性能要求的情况下,可以求出满足系统性能要求的最佳的参数值,或是多种满足条件的备选方案,为在SOC中使用eDRAM时优化存储器配置和存储系统设计提供理论依据.

嵌入式DRAM、评价、FPGA、函数簇

24

TP333.8(计算技术、计算机技术)

国家高技术研究发展计划863计划2006AA01Z226

2008-04-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

97-98,2

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1008-0570

14-1128/TP

24

2008,24(5)

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