10.3969/j.issn.1008-0570.2007.29.044
基于March算法的存储器测试控制器设计
随着soc设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展,存储器的品质直接影响着soc的整体性能的提高,故对于存储器测试显得尤为重要.现在存在的一些存储器测试方法对故障的覆盖率都不能达到100%.本文分析了现有的各种March算法,提出了一种新的存储器测试控制器设计方法,它综合调配各种March算法,使测试的故障覆盖率接近100%,并且硬件开销很小.
存储器、测试、March算法
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TP333(计算技术、计算机技术)
2007-12-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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