10.3969/j.issn.1008-0570.2007.19.079
晶体管热阻测试系统的设计与实现
热阻对晶体管的可靠性有着重要的影响,利用晶体管△Vbe参数与热阻在一定条件下满足某种数学关系式,通过测量晶体管△Vbe参数间接地测试热阻参数,实现对晶体管的质量测试,具有测量效率高、成本低、对器件无损伤等优点.
晶体管、热阻、测试
23
TN321(半导体技术)
2007-08-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
195-196
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10.3969/j.issn.1008-0570.2007.19.079
晶体管、热阻、测试
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TN321(半导体技术)
2007-08-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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