边界扫描主控器MCU设计与实现

摘要：

通过对边界扫描测试过程以及TAP的16种状态的分析,总结出边界扫描测试的核心操作,归纳出相应的核心指令,设计出一种边界扫描测试主控器的MCU控制器,并用FPGA实现.由于采用了控制器的实现方式以及具有扫描长度设置指令使得具有测试自动化程度高、灵活高效、成本低的优势.另外还单独配有指令用于和BIST功能配合.

关键词：微控制器、边界扫描、主控器、FPGA

所属期刊栏目：22

分类号：TP368.1(计算技术、计算机技术)

资助基金：广东省自然科学基金5301033;深圳大学校科研和教改项目200501

在线出版日期：2006-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：260-262,208