高精度芯片测试仪的设计与实现
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10.3969/j.issn.1008-0570.2006.23.086

高精度芯片测试仪的设计与实现

引用
本文首先介绍了一种在芯片设计过程中,对芯片进行各种测试的高精度测试仪设计方案,针对应用的需求特点提出了高精度的芯片测试仪的总体设计框架,以及详细的设计原理.对设计过程中需要用到的几个模块做了详细介绍:高精度可控稳定电源设计、精密矩形波的产生等.同时,对每个模块的设计优缺点也有介绍.

波形发生器、精密电源、测试、芯片

22

TN914.3

湖北省自然科学基金2004ABA053

2006-10-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

257-259

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1008-0570

14-1128/TP

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2006,22(23)

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