10.3969/j.issn.1008-0570.2006.19.061
时序电路测试向量的压缩
时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余.针对此问题提出一种压缩算法,减少测试序列的总长度,从而减少了仿真的时间和ATE设备的测试的时间,加速了测试的流程.实验结果表明,这种方法实现了较高的压缩效率,同时对测试序列的故障覆盖率和故障分辨率等参数影响很小.
自动测试、时序电路、向量压缩、OCTOPUS100、ATE
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TN4(微电子学、集成电路(IC))
国家自然科学基金90207016
2006-09-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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