10.3969/j.issn.1008-0570.2006.08.040
一种低功耗BIST测试方法
通过分析RTL的代码和RTL的故障仿真可得到一组屏蔽向量,将这些屏蔽向量和随机向量应用到门级进行故障测试可提高系统的故障覆盖率并降低测试功耗.本文主要论述了利用RTL的功能信息进行低功耗BIST测试的方法,并通过其在标准电路中的应用阐述实现过程.
寄存器传输级、内建自测试、故障模型、随机抵抗性故障
TN4(微电子学、集成电路(IC))
中国科学院知识创新工程项目KGCX-SW-15
2006-05-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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