SOC测试访问机制

摘要：

以复用为基础,通过测试访问机制(TAM,Test Access Mechanism)实现对深嵌在SOC(System On Chip)内部的IP核(Intellectual Property,知识产权模块)的测试,是解决SOC测试的根本方法.本文将介绍现有的几类典型的测试访问机制:(1)直接测试访问,(2)基于总线的测试访问机制,(3)基于透明模型的访问机制等.分析它们的特点,探讨面临的主要问题.

关键词：SOC、IP核、测试访问机制、复用

所属期刊栏目：22

分类号：TN43(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：中国科学院资助项目90207016

在线出版日期：2006-04-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：117-119